CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。它广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业院校、研究所、计量检定部门。

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　　CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。它广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业院校、研究所、计量检定部门。

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　　CPJ-4025Wφ400mm卧式投影仪是一种集光、机、电、电脑一体化的精密高效光学计量仪器。在透射光照明下，轮廓测量误差小于0.08%。它被广泛应用于机械、模具、工具、仪表、电子、轻工等行业，是计量室和生产车间不可缺少的一种计量检定设备

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　　CPJ-3020Wφ300mm卧式投影仪是一种集光、机、电、电脑一体化的精密高效光学计量仪器。在透射光照明下，轮廓测量误差小于0.08%。

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　　CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。仪器光学质量优良，物镜成清晰，放大倍率准确。

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　　CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。仪器光学质量优良，物镜成清晰，放大倍率准确。

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　　CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。仪器光学质量优良，物镜成清晰，放大倍率准确。

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　　CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。仪器光学质量优良，物镜成清晰，放大倍率准确。

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　　本显微镜作为高级金相显微镜使用，是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的，可用来鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定、原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。

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　　19J系列仪器属计量仪器的经典机型，几乎包括了所有几何量检测的一切手段，仪器功能全、精度高及操作简便、经久耐用，是精密机械行业的常规装备，也是各级技术监督、计量检测部门的有效检测依据，是科研、教学领域的得力助手。

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　　19J系列仪器属计量仪器的经典机型，几乎包括了所有几何量检测的一切手段，仪器功能全、精度高及操作简便、经久耐用，是精密机械行业的常规装备，也是各级技术监督、计量检测部门的有效检测依据，是科研、教学领域的得力助手。

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　　JGX-2大型工具显微镜是一种以影象法作为测量基础的精密光学测量仪器，加上测刀也能以轴切法来进生更精确的测量。仪器备有多种附件，从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率，以便对微小工件也能作精确的测定，在仪器上配装附加的投影设备后，还可作为轮廓投影仪使用。

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　　JGX-1型小型工具显微镜是以影像法为测量原理的具有繁用性的精密光学计量仪器之一。测量范围广、精确可靠、操作方便。因而特别适用于精密机械制造与工具制造工业。

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　　IM系列工具显微镜能方便地读取千分表头示值，测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所.

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　　6W阿贝比较仪是基于阿贝原理而设计制造的高精度长度计量仪器。该仪器主要用于测量二线之间的距离及平面上两点之间的距离：如对200mm以下短标尺的检定；对光谱圆形及光学仪器中的分划板的精密测量等等。并可作为摄谱仪的成套附件。

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　　107JPC测量显微镜小型、多用途的精密测量显微镜，结构紧凑、成像清晰、精度高，可作二维坐标的精密测量，及Z向的辅助测量。仪器带有可调光的落射、透射和辅助照明装置及多种滤色镜，给各种复杂形状的测量工作带来很大方便。

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　　107JA测量显微镜是一种小型的能进行二维测量的计量仪器，仪器主要采用透、反射照明方式，通过观察和数显系统对精密的几何量（长度、角度）进行观察、分析、测量。特别使用于录像机磁鼓、大规模集成电路线宽、小型零件（如钟表零件）及其他精密几何参数的数量。

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　　1.直角坐标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔外圆直径等等。2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

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　　直角座标中测定长度，例如：测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。转动度盘测定角度，例如：对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

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　　读数显微镜JC4-10是种袖珍型便携式的显微测量仪器。对粉末颗粒、表面凹坑、划痕、断层、涂面厚度等在线质控检测之用。其测微目镜部件还可以配各种复杂光学目视仪器上作读数显微测量之用。

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