本文标题:显微镜偏光性质与所发生的双折射性
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2015-4-22 11:36:37
显微镜偏光性质与所发生的双折射性
显微镜偏光性质检查双折射性的性质，电子状态其折射
率的差异互相垂直的两个偏振作用。
或者偏光显微镜当具有某些其它层状的结构规模小于所
使用光线波长。
偏光显微镜所均可发生这种双折射性现象大于一个折射
率的结构，可应用偏光显微镜进行观察。
偏光显微镜可把光线限制方位和方向，因此尽管分子测
定纤维性的规则或排列形式，正是偏光显微镜可从水平
上间接提供结构排列细胞。
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