本文标题:显微观察用的聚光器显微检查
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2015-5-21 10:36:51
显微观察用的聚光器显微检查
聚光器很少用于日常的荧光显微镜检查，因为暗场
聚光器产生的像反差高得多。
在测微荧光根据样品吸收般光的程度及其荧光象，
可以用它来寻找并挑选显微镜制品中合适的区域。
测微荧光测前要把物体引进测量视野内，因为寻找
物体并经小心地对在测量光阑中心。
所以这不宜用强度高的表面光完成，否则会发生迅
速的若干种吸收像。
将本页加入收藏
下一篇：物体样品标本的冰冻切片法的特点是什么
上一篇：什么是红外热成像原理的认识
本文出自上海永亨光学仪器有限公司，本文地址：http://www.sgyiqi.com/xinwen/1588.html
工业显微镜测量显微镜视频显微镜专业的供应商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/显微镜百科
- 没有资料
