本文标题:偏光显微镜检测时出现的干涉现象
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2015-10-12 9:23:13
偏光显微镜检测时出现的干涉现象
对于使用偏光显微镜对晶体表面进行显微观察检测
时，所出现的干涉色，则是由于显微镜在正交检偏
位置的情况下出现的。
因此在这种情况下则需要使用各种不同的波长对所
需要混合的光线进行观察晶体表面的双折射体。
同时对于下偏光镜则是一个可以进行调节转动的机
器部件，而下偏光镜的调节主要目的就是为了调节
其振动方向的。
通常情况下我们在显微镜单偏光镜下所观察到的晶
体形成程度，则是一种晶体边棱的规程程度，而对
于这种晶体的程度则是根据不同的形貌特征进行划
分类型的。
因此我们可以说晶体物质表面检测时的干涉色的主
要特点则分布玩的晶体双折射的各类与晶体的切片
厚度进行决定的。
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