本文标题:显微检测晶体表面的突起产生的原因
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2015-10-21 11:08:42
显微检测晶体表面的突起产生的原因
通常情况下我们对于晶体物质表面上凹凸不平的一个
比较粗糙的晶体表面进行显微检测时，光通过晶体凹
凸不平的表面时产生的折射率不相同。
在这样的情况下就说明了晶体物质表面上有突起，而
这种晶体物质突起则是一种晶体的折射率的不同，而
不同的折射率则代表头上不同的折射率。
因此通常我们在使用偏光显微镜进行显微检测时，对
于晶体物质表面光能在偏振表面上产生晶体突起的原
因，则是由于晶体和空气中的折射率相差不大的情况
下产生一个比较大的折射。
因此在这种情况下晶体物质表面底面的点就会比原来
晶质表面的位置要高，就时光通过晶体表面时光线就
会产生一个比较大的折射率。
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