本文标题:目前表面粗糙测量技术的研究趋势
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2016-4-4 17:45:09
目前表面粗糙测量技术的研究趋势
随着光学、电子学以及计算机等技术的不断进步，同时也拓展出
了表面粗糙测量技术的研究方向。
自20世纪80年代不断的研发设计出各种显微镜。其中不但包括原子力
显微镜、扫描隧道显微镜、扫描近场光学显微镜还有光子扫描隧道显微镜
等。
将这些显微镜技术和计算机视觉技术相融合进行研究，来进行表面粗
糙度测量成为表面粗糙度测量技术研究新的热点。
在很多领域中，比如科学研究中以及生产中，这其中都有一些外部因
素的限制，就比如工作环境的限制，要求在这些限制下进行线测量。这就需
要进行非接触式的，且高效可靠的测量方法进行研究。
在实现上面的在线测量的基础上，还要向三维的更高精度的表面粗糙
度测量技术的方向上进行发展延伸。
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